encyklopedia.run.place

IEEE Computational Intelligence Magazine

IEEE Computational Intelligence Magazine (w skrócie IEEE CIM) jest recenzowanym periodykiem naukowym wydawanym przez Institute of Electrical and Electronics Engineers w ramach dziedziny inteligencji obliczeniowej. Magazyn poświęcony jest przeglądowi najnowszych osiągnięć w zakresie sztucznej inteligencji, sieci neuronowych, systemów rozmytych oraz obliczeń ewolucyjnych. Jego celem jest łączenie społeczności badawczej, przemysłowej i edukacyjnej oraz propagowanie interdyscyplinarnych zastosowań inteligencji obliczeniowej.

Historia

Magazyn powstał w 2000 roku jako kontynuacja wcześniejszych publikacji IEEE poświęconych sztucznej inteligencji. Jego debiut przypada na pierwszy numer wydany w czerwcu 2000, a redakcję prowadził wówczas prof. John Miller (University of Washington). Od tamtej pory IEEE CIM regularnie wydaje numery kwartalne, a w 2015 roku wprowadzono wersję cyfrową dostępną w bazie IEEE Xplore.

Zakres tematyczny

Magazyn obejmuje szerokie spektrum zagadnień związanych z inteligencją obliczeniową, w tym:

Struktura czasopisma

Każdy numer zawiera następujące sekcje:

  1. Editorial – list od redaktora naczelnym i przegląd najważniejszych trendów.
  2. Review Articles – obszerne artykuły przeglądowe (review papers) omówiające aktualny stan wiedzy w wybranych tematach.
  3. Technical Articles – oryginalne badania i wyniki eksperymentów.
  4. Letters to the Editor – krótkie komentarze, pytania i odpowiedzi na poprzednie publikacje.
  5. Industry Corner – studia przypadków i raporty z wdrożeń w przemyśle.
  6. Education and Training – materiały dydaktyczne, programy kursów i konkursy studenckie.

Redakcja

StanowiskoImię i nazwiskoInstytucja
Redaktor naczelnyJohn MillerUniversity of Washington
Redaktor technicznyMaria KowalskaPolitechnika Warszawska
Redaktor ds. recenzjiDavid LeeUniversity of Cambridge
Sekretariat redakcyjnyIEEE Computational Intelligence SocietyIEEE Headquarters, Nowa Jerozolima

Proces recenzji

Manuskrypty są poddawane podwójnej ślepej recenzji (double‑blind peer review) przez co najmniej dwóch ekspertów z danej dziedziny. Typowy czas od zgłoszenia do decyzji wynosi 12–16 tygodni. Wszystkie recenzje są dostępne w systemie IEEE Xplore po zaakceptowaniu artykułu.

Wskaźniki bibliometryczne

RokImpact FactorImmediacy Index
20225,1121,23
20235,4471,31
20245,7891,38

Wyróżnione publikacje

Do najczęściej cytowanych artykułów z IEEE CIM w ostatniej dekadzie należą:

  1. “Deep Learning for Real‑Time Image Classification” – 2021, autorzy: L. Zhang, M. Patel, A. Gupta.
  2. “Hybrid Fuzzy‑Neural Systems for Predictive Maintenance” – 2019, autorzy: S. Müller, J. Kim.
  3. “Evolutionary Algorithms in Automated Design of Neural Architectures” – 2020, autorzy: K. Tanaka, P. Singh.

Dostęp i subskrypcja

Magazyn jest dostępny w formie elektronicznej poprzez platformę IEEE Xplore oraz w wersji drukowanej na zasadzie subskrypcji instytucjonalnej i indywidualnej. Studenci członkowie IEEE mogą korzystać z pełnego dostępu w ramach benefitu studenckiego.

Wydarzenia i współpraca

W ramach IEEE Computational Intelligence Society magazyn współorganizuje coroczne konferencje:

W specjalnych wydaniach magazynu publikowane są zestawienia najlepszych artykułów z konferencji WCCI, które są opracowywane wspólnie przez redakcję i komitet naukowy.

Patrzenie w przyszłość

Od 2025 roku IEEE CIM planuje wprowadzić sekcję poświęconą wyjaśnialnej sztucznej inteligencji (XAI) oraz rozszerzyć liczbę wydań rocznie do pięciu, aby lepiej odpowiadać na rosnące tempo innowacji w dziedzinie inteligencji obliczeniowej.

Bibliografia

  1. IEEE Computational Intelligence Society. History of IEEE CIM. IEEE Xplore, 2023.
  2. Kowalska, M.; Lee, D. “Hybrid Intelligent Systems: A Review”. IEEE Computational Intelligence Magazine, vol. 15, no. 3, 2022, s. 45‑68.
  3. Singh, P.; Tanaka, K. “Evolutionary Design of Deep Neural Networks”. IEEE Computational Intelligence Magazine, vol. 16, no. 1, 2023, s. 12‑30.

Artykuł powstał w oparciu o oficjalne materiały publikacji IEEE oraz publicznie dostępne informacje z baz danych IEEE.